LFU:online

Anmeldevoraussetzung: keine

Lernergebnisse: Die Studierenden sind in der Lage:
ad a.: die Grundlagen und Anwendungen von Rastersondenmikroskopie, Rasterkraftmikroskopie und weiteren mikroskopischen Techniken zu verstehen und zu beschreiben, einschließlich
Oberflächen-Potenzial-Mikroskopie, Electric-Force-Mikroskopie, Reibungsmikroskopie und
Transmissionselektronenmikroskopie
ad b.: Oberflächen im nanoskopischen Bereich und mit atomarer Auflösung zu charakterisieren, einschließlich der Verwendung von Rastersondenmethoden, und Untersuchungen von Nanoteilchen und Schichtmaterialien mit Elektronenmikroskopie durchzuführen
ad c.: optische Eigenschaften von Festkörpern anhand der Theorie des Brechungsindex zu analysieren, verschiedene Kontrastverfahren wie Phasenkontrast, Interferenzkontrast und Dunkelfeldmikroskopie anzuwenden sowie Unterschiede im Farbverhalten und in der Richtungsabhängigkeit optischer Phänomene zu erklären
ad d.: die Grundlagen der Polarisationsmikroskopie auf isotrope und anisotrope Medien anzuwenden, die optische Ein- und Zweiachsencharakteristik von Kristallen zu unterscheiden und
mithilfe der Indikatrix darzustellen.